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http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0221-2025090854664

Titel: Spotlight on “Action potential threshold variability for different electrostimulation models and its potential impact on occupational exposure limit values” by Soyka et al. in Bioelectromagnetics (2025)
Herausgeber: Bundesamt für Strahlenschutz (BfS)Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)Kompetenzzentrum elektromagnetische Felder (KEMF)
Erscheinungsdatum: 9-Sep-2025
Reihe(n): Spotlight on EMF Research ; Spotlight - Sep/2025 no.4
Reportnummer(n): Spotlight - Sep/2025 no.4
URN(s): urn:nbn:de:0221-2025090854664
Schlagwört(er): Statische und niederfrequente FelderDosimetrieExpositionNiederfrequente elektromagnetische FelderSENN-ModellGrenzwertlow frequencydosimetryexposureSENN modelsafety guidelines
Zusammenfassung: Deutsch Die Expositionsgrenzwerte für niederfrequente Felder im Arbeitsschutz basieren auf der Erregbarkeit des Nervensystems und sollen unerwünschte Nervenreizungen verhindern. Soyka et al. untersuchen die verwendeten Modelle zur Simulation der Reizschwellen und vergleichen sie untereinander. In ihren Berechnungen stellen sie fest, dass sich bemerkenswerte (teilweise eine Größenordnung) Unterschiede der Reizschwellen ergeben, abhängig davon welches Modell verwendet und welches Szenario simuliert wird.English The exposure limits for low-frequency fields in occupational safety are based on the excitability of the nervous system and are intended to prevent undesirable nerve stimulation. Soyka et al. investigate the models used for simulating stimulation thresholds and compare them with each other. In their calculations, they find that significant differences (in some cases by an order of magnitude) in stimulation thresholds arise, depending on which model is used and which scenario is simulated.
Thema / Themen:Spotlight on EMF Research

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