DORIS - Digitales Online Repositorium und Informations-System >
Übergreifende Themen >
Spotlight on EMF Research >
Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen:
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0221-2025090854664
|
Titel: | Spotlight on “Action potential threshold variability for different electrostimulation models and its potential impact on occupational exposure limit values” by Soyka et al. in Bioelectromagnetics (2025) |
Herausgeber: | Bundesamt für Strahlenschutz (BfS)Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)Kompetenzzentrum elektromagnetische Felder (KEMF) |
Erscheinungsdatum: | 9-Sep-2025 |
Reihe(n): | Spotlight on EMF Research ; Spotlight - Sep/2025 no.4 |
Reportnummer(n): | Spotlight - Sep/2025 no.4 |
URN(s): | urn:nbn:de:0221-2025090854664 |
Schlagwört(er): | Statische und niederfrequente FelderDosimetrieExpositionNiederfrequente elektromagnetische FelderSENN-ModellGrenzwertlow frequencydosimetryexposureSENN modelsafety guidelines |
Zusammenfassung: | Deutsch
Die Expositionsgrenzwerte für niederfrequente Felder im Arbeitsschutz basieren auf der Erregbarkeit des Nervensystems und sollen unerwünschte Nervenreizungen verhindern. Soyka et al. untersuchen die verwendeten Modelle zur Simulation der Reizschwellen und vergleichen sie untereinander. In ihren Berechnungen stellen sie fest, dass sich bemerkenswerte (teilweise eine Größenordnung) Unterschiede der Reizschwellen ergeben, abhängig davon welches Modell verwendet und welches Szenario simuliert wird.English
The exposure limits for low-frequency fields in occupational safety are based on the excitability of the nervous system and are intended to prevent undesirable nerve stimulation. Soyka et al. investigate the models used for simulating stimulation thresholds and compare them with each other. In their calculations, they find that significant differences (in some cases by an order of magnitude) in stimulation thresholds arise, depending on which model is used and which scenario is simulated. |
Thema / Themen: | Spotlight on EMF Research
|
Datei(en) zu dieser Ressource:
|
Alle Ressourcen in DORIS sind urheberrechtlich geschützt. Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Lizenz (s. Spalte links).
|