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http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0221-2025090854688

Titel: Spotlight on “A Gaussian process based approach for validation of multi-variable measurement systems: Application to SAR measurement systems” by Bujard et al. in IEEE Access (2024)
Herausgeber: Bundesamt für Strahlenschutz (BfS)Kompetenzzentrum elektromagnetische Felder (KEMF)Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
Erscheinungsdatum: 9-Sep-2025
Reihe(n): Spotlight on EMF Research ; Spotlight - Sep/2025 no.3
Reportnummer(n): Spotlight - Sep/2025 no.3
URN(s): urn:nbn:de:0221-2025090854688
Schlagwört(er): Hochfrequente FelderDosimetrieGauß-Prozess-InterpolationSAR-MesssystemeradiofrequencydosimetryGaussian process interpolationSAR measurement systemExpositionexposure
Zusammenfassung: Deutsch Messsysteme für die spezifische Absorptionsrate stellen die Grundlage dar, um zu demonstrieren, dass schnurlose Endgeräte wie Mobiltelefone die Normen für Produktsicherheit einhalten. Entscheidend ist, dass solche Systeme ihrerseits einen zuverlässigen Validierungsprozess durchlaufen. Hier wird eine neue Validierungsprozedur vorgeschlagen, die erstmalig stochastische Methoden verwendet. In diesem Spotlight-Beitrag diskutieren die Autoren, warum diese Methode die Validierung von Messystemen zuverlässiger und effizienter machen könnte.Englisch Specific absorption rate measurement systems are the basis for demonstrating that wireless devices such as mobile phones are compliant with the product safety standards. It is of major importance that these measurement systems themselves are reliably validated. The paper at hand introduces for the first time a validation procedure based on stochastic methods. In the Spotlight the authors describe how such a model is created and discuss why the method might increase the efficiency and reliability of validation of specific absorption rate measurement systems.
Thema / Themen:Spotlight on EMF Research

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